「画像センシング展2016」に出展しました。

2016/06/11

2016年6月8日(水)～10日(金)　「画像センシング展2016 」へ下記の製品を出展し、デモンストレーションを行いました。
たくさんの方にご来場いただき、誠にありがとうございました。

次回
国際画像機器展　出展予定です。
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出展内容

CCDカラーカメラを用いた垂直反射率画像計測装置です。
約4mm（約19万点）の反射率（R,G,B）を、開発したデータ処理により表面粗さと反射色彩値の同時測定が可能です。応用例として干渉色よりシリコンウェハー上の酸化膜厚の測定および二次電池塗工膜厚・密度測定も可能です。

◆画像処理による製品検査等のご相談も受け付け。
◆展示会終了後もご希望の方には弊社にてデモを行いました。
　